用途：

牛津X-Strata920是牛津仪器最新发布的新一代X射线荧光（XRF）镀层测厚仪，仅需10秒即可得出测量结果，是CMI900的升级版，改进了系统安全部件，更新了软件系统，测量结果可进行多样化的输出。适用于大多数行业，是质量控制、节约成本的最佳检测工具。

参数：                          

测厚范围：

取决于具体的应用。 

测量精度：

膜厚≤20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±1µin，第二层±2µin，第二层±3µin

膜厚＞20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±5%，第二层±10%，第二层±15%。

特点：

　　1. 以更有效的过程控制来提高生产力，有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化。

　　2. 卓越的分析性能。

　　3. 无与伦比的性价比。

　　4. 快速分析多达4层镀层及15种元素。

　　5. 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都要带来利益。

　　6. 操作简单，只需要简单的培训。

　　7. 超大样品台，便于大面积样品测量，比如印刷电路板。

　　8. 坚固耐用，把停工期降到最少。

　　9. 更好的稳定性及长期可靠性。

　　10.     新的外观设计。

　　11.     工作寿命延长。

　　12.     新的安全特征确保数据完整性。

　　13.     可定时的“自动锁机”功能。

　　14.     防止未授权操作。

　　15.     改进的报告能力。

　　16.     与Microsoft Excel无缝联接。