设备用途:
主要用于检测印制电路板内、外层半成品经显影蚀刻后(上绿油前)线路的上幅及下幅宽度,线间的距离,圆孔、盲孔、弧的直径和孔到边线的距离等。
扩展用途:IC芯片线宽距测量,薄膜宽度测量,LCD线路板测量等。
设备特点:
1、红光LD定位,可快速找到测量区域。
2、高精度机械调节装置,对焦距进行粗调和微调。
3、采用进口高感光度彩色CCD,成像画质清晰。
4、配备环形光源,且连续可调,满足上线宽、下线宽、圆孔、盲孔等多种测量模式。
5、拥有管理员/操作员模式,方便管理。
6、软件自动寻边,测量更加快捷准确。
7、软件操作简便,鼠标三键操作。
8、方便快速汇出测量图片和测量数据。
基本参数:
项目 | 参数 |
型号 | ZEX-XK-02 台式 |
分辨率 | 0.70~5.20μm/pixel |
电子放大倍率 | 50× |
光学放大倍率 | 1.4×至9×连续可调 |
光源 | LED环形光(亮度连续可调) |
LED定位光源(红光) | |
CCD | 高感光度CCD |
可测最大板宽 | 780mm |
视野范围 | 0.53mm×0.4mm~3.4mm×2.5mm |
仪器外形尺寸(不含计算机) | 960×700×1220mm(L×W×H) |
重量(不含计算机) | 145kg |
工作电源 | 220V±10%/50Hz |
操作温度 | 0℃~40℃ |